ОБОРУДОВАНИЕ
ОБОРУДОВАНИЕ
АО «НИЦПВ» располагает современным оборудованием, эталонной базой и штатом квалифицированных специалистов, что позволяет выполнять широкий спектр услуг по метрологическому обеспечению и стандартизации в области нанотехнологий, измерений геометрических величин, физико-химического состава и свойств веществ, виброакустических величин.
Solver P47H
СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП SOLVER P47H
Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии. Точность измерения перемещения (система сканирования) по вертикали 0,1 нм, в латеральном направлении – 1 нм.
Hitachi, Япония
МИКРОСКОП ЭЛЕКТРОННЫЙРАСТРОВЫЙ S-4800
Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии. Точность измерения перемещения (система сканирования) по вертикали 0,1 нм, в латеральном направлении – 1 нм.
Ntegra Aura
СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ ЛАБОРАТОРИЯ NTEGRA AURA
Модульная структура позволяет проводить исследования образцов в жидкостях. Возможность работы в контактном, прерывисто-контактном и бесконтактном режиме. Возможна работа в режиме АСМ и СТМ. Наличие вакуумной системы (давление до 10⁻² Торр ) позволяет проводить более аккуратный анализ сил взаимодействия между зондом и образцом. Исследование и модификация электрических (проводимость, емкостная микроскопия) и магнитных свойств объектов.
Spectroscopy & Imaging, Германия
РАМАНОВСКИЙ СПЕКТРОМЕТР ВЫСОКОГО РАЗРЕШЕНИЯ MICRO-S-RAMAN
Анализ химического строения твердых и жидких тел, механических напряжений в полупроводниках, характеризация углеродных нанотрубок. Применяется в полупроводниковой, химической, фармацевтической отраслях промышленности, при исследовании полимеров.
JEOL, Япония
ЭЛЕКТРОННО-ИОННЫЙ МИКРОСКОП JIB-4500 C МИКРОМАНИПУЛЯТОРОМ IB-32010FPUS
Предназначен для управляемого локального травления сфокусированным ионным пучком проводящих и непроводящих объектов с заданным рисунком. В совокупности с микроманипулятором IB-32010FPUS идеально подходит для оперативной подготовки образцов из выбранной области для исследования в ПЭМ.
JEOL, Япония
ПРОСВЕЧИВАЮЩИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП (ПЭМ) JEM-2100
Анализ микро- и наноструктуры твердотельных объектов, измерение линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, и межплоскостных расстояний в режиме дифракции.
JEOL, Япония
РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП JSM-6460LV С ПРИСТАВКОЙ РЕНТГЕНОВ-СКОГОМИКРОАНАЛИЗА INCAX-SIGHT, ПРИСТАВКОЙ РЕГИСТРАЦИИ СПЕКТРОВ МИКРО-КАТОДОЛЮМИНЕС-ЦЕНЦИИMONOCL3 И ПРИСТАВКОЙ РЕГИСТРАЦИИ ДИФРАКЦИИ ОБРАТНО-РАССЕЯННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U с чувствительностью порядка 0,1 %
BRUKER (Германия)
РЕНТГЕНОВСКИЙ ДИФРАКТОМЕТР МОДЕЛИ D8 DISCOVER
Исследование кристаллической структуры твердотельных материалов, определение качественного и количественного фазового состава и структуры твердых тел, параметров элементарной ячейки, микронапряжений в кристаллах. Рентгеноструктурный анализ кристаллических порошков. Возможность работы в режиме рефлектометра.
Disco, Япония
УСТАНОВКА РЕЗКИ ПЛАСТИН ADP1
Высокоточная система дисковой резки ADP1 предназначена для механической обработки пластин таких как: скрайбирование (неполный разрез пластины без разделения) и разрез пластины до полного разделения на части. Управление режимами резки микропроцессорное.
SSE Company, Германия
УСТАНОВКА OPTIWET ST30
Установка предназначена для осуществления операций химической очистки пластин и удаления резистов.
ОАО «НИЦПВ», Россия
МЕРА ШИРИНЫ И ПЕРИОДА СПЕЦИАЛЬНЫЕ МШПС-2.0К
Передача размера единицы длины в диапазоне 10-9 ÷ 10-4 м и калибровка (поверка) оптических ближнего поля, растровых электронных, сканирующих туннельных и атомно-силовых микроскопов и других средств измерений малой длины.
Kulicke & Soffa, США
УСТАНОВКА РАЗВАРКИ ВЫВОДОВ 4524AD PACKAGE
Установка предназначена для проведения процессов шариковой микросварки, формирования контактных выступов, точечной сварки и формовки шариков, формирования шарика электрическим разрядом, термокомпрессионной контактной микросварки.
Picosun, США
УСТАНОВКА АТОМАРНО –СЛОЕВОГО ОСАЖДЕНИЯ PICOSUN SUNALE R-150
Установка атомарно-слоевого осаждения тонких пленок СdS, TiN, HfO2, Ta2O5, TiO2, ZnO, и др. толщиной от 2 нм с точностью роста до одного монослоя и с высокой конформностью наносимых слоев.
ОАО «НИЦПВ», Россия
СО ПАРАМЕТРОВ ШАГОВОЙ СТРУКТУРЫ В ТОНКОМ СЛОЕ МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО КРЕМНИЯ ГСО 10030-2011
Градуировка, поверка и калибровка просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), исследования и контроля метрологических характеристик ПЭМ при проведении их испытаний в целях утверждения типа.
BOC Edwards, Англия
ВАКУУМНАЯ НАПЫЛИТЕЛЬНАЯ УСТАНОВКА AUT0 500 BOC EDWARDS
Возможность нанесения тонких пленок металлов и диэлектриков (толщина от 10 нм до 1 мкм).
Leica Microsystems, США
ОПТИЧЕСКИЙ МИКРОСКОП LEIKA-DM2500
Микроскоп оптический поляризационный. Позволяет работать в проходящем и отраженном свете. Разрешение до 0,4 мкм. Имеется метод интерференционного контраста.
ЗАО “НТ-МДТ”, Россия
СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ ЛАБОРАТОРИЯ NTEGRA AURA В КОМПЛЕКТЕ С NTEGRA THERMA
Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии.
ЗАО “НТ-МДТ”, Россия
CКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ ЛАБОРАТОРИЯ NTEGRA PRIMA
Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии.
ЗАО “НТ-МДТ”, Россия
СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП SOLVER P47
Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии.
ФГУП ВНИИОФИ, Россия
АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ МИКРОПРОФИЛОМЕТР (АИМ)
Измерение микрорельефа поверхности отражающих объектов, толщины тонких пленок, параметров шероховатости. Применяется в материаловедении, микроэлектронике.
FEI Company, США
ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП С ПРИСТАВКОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ЛИТОГРАФИИ, СИСТЕМОЙ ФОКУСИРОВАННОГО ИОННОГО ПУЧКА И ГАЗОВОЙ ХИМИИ QUANTA 200 3D
Фигурная резка (травление фокусированным ионным пучком) поверхности объекта для формирования объемных структур произвольной формы и уровня сложности с разрешением до 70 нм. Энергия ионов варьируется от 100 эВ до 30 кэВ.
FEI Company, США
РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП FEI QUANTA 200
Измерение линейных размеров нанообъектов, элементного состава поверхности и спектров катодолюминесценции.
ЗАО “НТ-МДТ”, Россия
СВЕРХВЫСОКОВАКУУМНЫЙ НАНОТЕХНИЧЕСКИЙ СЗМ-КОМПЛЕКС NANOFAB-100
Предназначен для исследования геометрических параметров и физико-химических свойств микро и нанообъектов на поверхности различных образцов (включая полупроводниковые пластины диаметром до 100 мм) методами сканирующей зондовой микроскопии в условиях сверхвысокого вакуума.
BRUKER, Германия
СИСТЕМА ЛАЗЕРНАЯ ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ ЛИС-01М
Для измерения линейных перемещений при поверке и калибровке высокоточных средств измерений линейных перемещений и систем прецизионного позиционирования и сканирования, емкостных и индуктивных измерительных преобразователей, тензодатчиков, лазерных измерителей наноперемещений, первичных преобразователей акустико-эмиссионных систем неразрушающего контроля.
BRUKER, Германия
ИНФРАКРАСНЫЙ ФУРЬЕ-СПЕКТРОМЕТР TENSOR 37 C ИК-МИКРОСКОПОМ HYPERION
Качественный и количественный анализ химического состава твердых и жидких тел, их идентификация, контроль концентрации О и С в Si пластинах, контроль качества лекарственных форм и сырья, криминалистический и биоклинический анализ.
ЗАЯВКА НА СОТРУДНИЧЕСТВО
Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных
