Научно-исследовательский центр
по изучению свойств поверхности и вакуума

ЭЛЕКТРОННО-ИОННЫЙ МИКРОСКОП JIB-4500 C МИКРОМАНИПУЛЯТОРОМ IB-32010FPUS

ОБОРУДОВАНИЕ

Предназначен для управляемого локального травления сфокусированным ионным пучком проводящих и непроводящих объектов с заданным рисунком. В совокупности с микроманипулятором  IB-32010FPUS идеально подходит для оперативной подготовки образцов из выбранной области для исследования в ПЭМ.

Прибор объединяет в себе растровый электронный микроскоп и растровый ионный микроскоп и оснащен системой локального нанесения С и W из газовой фазы. Электронная  пушка — на основе LaB6 эмиттера,  ионная пушка – на основе галлиевого жидкометаллического источника. Электронная пушка — на основе LaB6 эмиттера,  ионная пушка – на основе галлиевого жидкометаллического источника.

Основные технические характеристики

  • Параметры электронно-оптической системы: разрешение (30кВ, рабочий отрезок 6 мм), нм 2,5 н
  • Параметры электронно-оптической системы: диапазон увеличений, крат 8-300000
  • Параметры электронно-оптической системы: диапазон регулировки ускоряющего напряжения, кВ 0,3-30
  • Параметры ионно-оптической системы: разрешение (30кВ), нм 5 нм
  • Диапазон измерений линейных размеров, мкм 0,003-50
  • Параметры ионно-оптической системы: диапазон увеличений, крат 100-300000
  • Параметры ионно-оптической системы: диапазон регулировки ускоряющего напряжения, кВ 0,3-30
  • Производитель JEOL, Япония

ЗАЯВКА НА СОТРУДНИЧЕСТВО

Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных

ОСТАВИТЬ ЗАЯВКУ

Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных

ОСТАВИТЬ ЗАЯВКУ

Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных