Научно-исследовательский центр
по изучению свойств поверхности и вакуума

РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП JSM-6460LV С ПРИСТАВКОЙ РЕНТГЕНОВ-СКОГОМИКРОАНАЛИЗА INCAX-SIGHT, ПРИСТАВКОЙ РЕГИСТРАЦИИ СПЕКТРОВ МИКРО-КАТОДОЛЮМИНЕС-ЦЕНЦИИMONOCL3 И ПРИСТАВКОЙ РЕГИСТРАЦИИ ДИФРАКЦИИ ОБРАТНО-РАССЕЯННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ

ОБОРУДОВАНИЕ

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U с чувствительностью порядка 0,1%.

Исследование спектров микрокатодолюминесцнции  в диапазоне 300-900 нм с пространственным разрешением порядка 1 мкм в диапазоне температур 78 -300 К. Исследование дифракции обратно-рассеянных электронов для определения кристаллической структуры изучаемых объектов с локальностью несколько микрометров.

Основные технические характеристики

  • Диапазон регулировки ускоряющего напряжения 1¸30 кВ.
  • Разрешение при ускоряющем напряжении 30кВ 3нм
  • Диапазон регулировки увеличения 12¸300000 крат.
  • Производитель JEOL, Япония

ЗАЯВКА НА СОТРУДНИЧЕСТВО

Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных

ОСТАВИТЬ ЗАЯВКУ

Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных

ОСТАВИТЬ ЗАЯВКУ

Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных