Растровый электронный микроскоп JSM-6460LV с приставкой рентгенов-скогомикроанализа INCAx-sight, приставкой регистрации спектров микро-катодолюминес-ценцииMonoCL3 и приставкой регистрации дифракции обратно-рассеянных электронов

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U с чувствительностью порядка 0,1 %

Исследование спектров микрокатодолюминесцнции  в диапазоне 300-900 нм с пространственным разрешением порядка 1 мкм в диапазоне температур 78 -300 К. Исследование дифракции обратно-рассеянных электронов для определения кристаллической структуры изучаемых объектов с локальностью несколько микрометров.

Основные технические характеристики

Диапазон регулировки ускоряющего напряжения
1¸30 кВ.
Разрешение при ускоряющем напряжении 30кВ
3нм
Диапазон регулировки увеличения 
12¸300000 крат.
Производитель
JEOL, Япония

Я согласен с условиями обработки персональных данных

Наверх