Измерение микрорельефа поверхности отражающих объектов, толщины тонких пленок, параметров шероховатости. Применяется в материаловедении, микроэлектронике.
Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных
Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных
Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных