Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47

Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии.

Основные технические характеристики

Точность измерения перемещения (система сканирования) по вертикали
0,1 нм, в латеральном направлении – 1 нм.
Возможна работа в режиме АСМ и СТМ.
Возможность работы в контактном, прерывисто-контактном и бесконтактном режиме.
Производитель
ЗАО “НТ-МДТ”, Россия

Я согласен с условиями обработки персональных данных

Наверх