Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47H

Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии. Точность измерения перемещения (система сканирования) по вертикали 0,1 нм, в латеральном направлении – 1 нм.

Возможна работа в режиме АСМ и СТМ.

Возможность работы в контактном, прерывисто-контактном и бесконтактном режиме.

Производитель: ЗАО “НТ-МДТ”, Россия

Основные технические характеристики

Диффузионная 
длина (LD)
10 ÷ 2000 мкм при LD < t
Концентрация 
металла (Fe)
10⁹ ÷ 10¹³ см⁻³
Погрешность 
измерений:
15 ÷ 30 %

Я согласен с условиями обработки персональных данных

Наверх