Научно-исследовательский центр
по изучению свойств поверхности и вакуума

ОБОРУДОВАНИЕ

ОБОРУДОВАНИЕ

АО «НИЦПВ» располагает современным оборудованием, эталонной базой и штатом квалифицированных специалистов, что позволяет выполнять широкий спектр услуг по метрологическому обеспечению и стандартизации в области нанотехнологий, измерений геометрических величин, физико-химического состава и свойств веществ, виброакустических величин.

Solver P47H

СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП SOLVER P47H

Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии. Точность измерения перемещения (система сканирования) по вертикали 0,1 нм, в латеральном направлении – 1 нм.

Hitachi, Япония

МИКРОСКОП ЭЛЕКТРОННЫЙРАСТРОВЫЙ S-4800

Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии. Точность измерения перемещения (система сканирования) по вертикали 0,1 нм, в латеральном направлении – 1 нм.

Ntegra Aura

СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ ЛАБОРАТОРИЯ NTEGRA AURA

Модульная структура позволяет проводить исследования образцов в жидкостях. Возможность работы в контактном, прерывисто-контактном и бесконтактном режиме. Возможна работа в режиме АСМ и СТМ. Наличие вакуумной системы (давление до 10⁻² Торр ) позволяет проводить более аккуратный анализ сил взаимодействия между зондом и образцом. Исследование и модификация электрических (проводимость, емкостная микроскопия) и магнитных свойств объектов.

Spectroscopy & Imaging, Германия

РАМАНОВСКИЙ СПЕКТРОМЕТР ВЫСОКОГО РАЗРЕШЕНИЯ MICRO-S-RAMAN

Анализ химического строения твердых и жидких тел, механических напряжений в полупроводниках, характеризация углеродных нанотрубок. Применяется в полупроводниковой, химической, фармацевтической отраслях промышленности, при исследовании полимеров.

 

JEOL, Япония

ЭЛЕКТРОННО-ИОННЫЙ МИКРОСКОП JIB-4500 C МИКРОМАНИПУЛЯТОРОМ IB-32010FPUS

Предназначен для управляемого локального травления сфокусированным ионным пучком проводящих и непроводящих объектов с заданным рисунком. В совокупности с микроманипулятором  IB-32010FPUS идеально подходит для оперативной подготовки образцов из выбранной области для исследования в ПЭМ.

JEOL, Япония

ПРОСВЕЧИВАЮЩИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП (ПЭМ) JEM-2100

Анализ микро- и наноструктуры твердотельных объектов, измерение линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, и межплоскостных  расстояний  в режиме дифракции.

 

JEOL, Япония

РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП JSM-6460LV С ПРИСТАВКОЙ РЕНТГЕНОВ-СКОГОМИКРОАНАЛИЗА INCAX-SIGHT, ПРИСТАВКОЙ РЕГИСТРАЦИИ СПЕКТРОВ МИКРО-КАТОДОЛЮМИНЕС-ЦЕНЦИИMONOCL3 И ПРИСТАВКОЙ РЕГИСТРАЦИИ ДИФРАКЦИИ ОБРАТНО-РАССЕЯННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U с чувствительностью порядка 0,1 %

BRUKER (Германия)

РЕНТГЕНОВСКИЙ ДИФРАКТОМЕТР МОДЕЛИ D8 DISCOVER

Исследование кристаллической структуры твердотельных материалов, определение качественного и количественного фазового состава  и структуры твердых тел, параметров элементарной ячейки, микронапряжений в кристаллах. Рентгеноструктурный анализ кристаллических порошков. Возможность работы в режиме рефлектометра.

Disco, Япония

УСТАНОВКА РЕЗКИ ПЛАСТИН ADP1

Высокоточная система дисковой резки ADP1 предназначена для механической обработки пластин таких как: скрайбирование (неполный разрез пластины без разделения) и разрез пластины до полного разделения на части. Управление режимами резки микропроцессорное.

SSE Company, Германия

УСТАНОВКА OPTIWET ST30

Установка предназначена для осуществления операций химической очистки пластин и удаления резистов.

 

ОАО «НИЦПВ», Россия

МЕРА ШИРИНЫ И ПЕРИОДА СПЕЦИАЛЬНЫЕ МШПС-2.0К

Передача размера единицы длины в диапазоне 10-9 ÷ 10-4 м и калибровка (поверка) оптических ближнего поля, растровых электронных, сканирующих туннельных и атомно-силовых микроскопов и других средств измерений малой длины.

Kulicke & Soffa, США

УСТАНОВКА РАЗВАРКИ ВЫВОДОВ 4524AD PACKAGE

Установка предназначена для  проведения процессов шариковой микросварки, формирования контактных выступов, точечной сварки и формовки шариков, формирования шарика электрическим разрядом, термокомпрессионной контактной микросварки.

Picosun, США

УСТАНОВКА АТОМАРНО –СЛОЕВОГО ОСАЖДЕНИЯ PICOSUN SUNALE R-150

Установка атомарно-слоевого осаждения тонких пленок СdS, TiN, HfO2, Ta2O5, TiO2, ZnO,  и др. толщиной от 2 нм  с точностью роста до одного монослоя и с  высокой  конформностью наносимых слоев.

ОАО «НИЦПВ», Россия

СО ПАРАМЕТРОВ ШАГОВОЙ СТРУКТУРЫ В ТОНКОМ СЛОЕ МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО КРЕМНИЯ ГСО 10030-2011

Градуировка, поверка и калибровка просвечивающих электронных  микроскопов (ПЭМ), исследования и контроля метрологических характеристик ПЭМ при проведении их испытаний в целях утверждения типа.

BOC Edwards, Англия

ВАКУУМНАЯ НАПЫЛИТЕЛЬНАЯ УСТАНОВКА AUT0 500 BOC EDWARDS

Возможность нанесения тонких пленок металлов и диэлектриков (толщина от 10 нм до 1 мкм).

Leica Microsystems, США

ОПТИЧЕСКИЙ МИКРОСКОП LEIKA-DM2500

Микроскоп оптический поляризационный. Позволяет работать в проходящем и отраженном свете. Разрешение до 0,4 мкм. Имеется метод интерференционного контраста.

ЗАО “НТ-МДТ”, Россия

СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ ЛАБОРАТОРИЯ NTEGRA AURA В КОМПЛЕКТЕ С NTEGRA THERMA

Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии.

ЗАО “НТ-МДТ”, Россия

CКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ ЛАБОРАТОРИЯ NTEGRA PRIMA

Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии.

ЗАО “НТ-МДТ”, Россия

СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП SOLVER P47

Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии.

ФГУП ВНИИОФИ, Россия

АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ МИКРОПРОФИЛОМЕТР (АИМ)

Измерение микрорельефа  поверхности отражающих объектов, толщины тонких пленок, параметров шероховатости. Применяется в материаловедении, микроэлектронике.

FEI Company, США

ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП С ПРИСТАВКОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ЛИТОГРАФИИ, СИСТЕМОЙ ФОКУСИРОВАННОГО ИОННОГО ПУЧКА И ГАЗОВОЙ ХИМИИ QUANTA 200 3D

Фигурная резка (травление фокусированным ионным пучком) поверхности объекта для формирования объемных структур произвольной формы и уровня сложности с разрешением до 70 нм. Энергия ионов варьируется от 100 эВ до 30 кэВ.

FEI Company, США

РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП FEI QUANTA 200

Измерение линейных размеров нанообъектов, элементного состава поверхности и спектров катодолюминесценции.

ЗАО “НТ-МДТ”, Россия

СВЕРХВЫСОКОВАКУУМНЫЙ НАНОТЕХНИЧЕСКИЙ СЗМ-КОМПЛЕКС NANOFAB-100

Предназначен для исследования геометрических параметров и физико-химических свойств микро и нанообъектов на поверхности различных образцов (включая полупроводниковые пластины диаметром до 100 мм) методами сканирующей зондовой микроскопии в условиях сверхвысокого вакуума.

BRUKER, Германия

СИСТЕМА ЛАЗЕРНАЯ ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ ЛИС-01М

Для измерения линейных перемещений при поверке и калибровке высокоточных средств измерений линейных перемещений и систем прецизионного позиционирования и сканирования, емкостных и индуктивных измерительных преобразователей, тензодатчиков, лазерных измерителей наноперемещений, первичных преобразователей акустико-эмиссионных систем неразрушающего контроля.

BRUKER, Германия

ИНФРАКРАСНЫЙ ФУРЬЕ-СПЕКТРОМЕТР TENSOR 37 C ИК-МИКРОСКОПОМ HYPERION

Качественный и количественный анализ химического состава твердых и жидких тел, их идентификация, контроль концентрации О и С  в Si пластинах, контроль качества лекарственных форм и сырья, криминалистический и биоклинический анализ.

ЗАЯВКА НА СОТРУДНИЧЕСТВО

Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных

ОСТАВИТЬ ЗАЯВКУ

Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных

ОСТАВИТЬ ЗАЯВКУ

Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных