Cканирующая зондовая лаборатория Ntegra Prima

Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии.

Основные технические характеристики

Точность измерения перемещения (система сканирования)

по вертикали 0,1 нм, в латеральном направлении – 1 нм.

Модульная структура позволяет проводить исследования образцов в жидкостях, в контролируемой газовой среде и при температурах до 150о С. Возможна работа в режиме АСМ и СТМ.

Возможность работы в контактном, прерывисто-контактном и бесконтактном режиме.

Измерение упругих свойств объектов на наномасштабе, исследование слоистых структур. Исследование и модификация электрических (проводимость, емкостная микроскопия) и магнитных свойств объектов.

Возможность реализации сложных многопроходных методик и собственных алгоритмов обработки данных.

Производитель

ЗАО “НТ-МДТ”, Россия

Получить консультацию