Предназначен для исследования геометрических параметров и физико-химических свойств микро и нанообъектов на поверхности различных образцов (включая полупроводниковые пластины диаметром до 100 мм) методами сканирующей зондовой микроскопии в условиях сверхвысокого вакуума.
Определяющая область применения — микро- и наноэлектроника (в том числе и в производственных условиях).
Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных
119421, Москва, ул. Новаторов, 40, корп. 1
© АО НИЦПВ, 2024
Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных
Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных