СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП SOLVER P47
ОБОРУДОВАНИЕ
Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии.
Основные технические характеристики
-
Точность измерения перемещения (система сканирования) по вертикали 0,1 нм, в латеральном направлении – 1 нм.
-
Возможна работа в режиме АСМ и СТМ.
-
Возможность работы в контактном, прерывисто-контактном и бесконтактном режиме.
-
Производитель ЗАО “НТ-МДТ”, Россия
ЗАЯВКА НА СОТРУДНИЧЕСТВО
Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных
