ПРОСВЕЧИВАЮЩИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП (ПЭМ) JEM-2100
ОБОРУДОВАНИЕ
Анализ микро- и наноструктуры твердотельных объектов, измерение линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, и межплоскостных расстояний в режиме дифракции.
Применяется в материаловедении, микроэлектронике, геологии, биологии, металлургии и других отраслях науки и техники.
Основные технические характеристики
-
Разрешающая способность микроскопа: - по точкам, нм 0,23
-
Разрешающая способность микроскопа: - по линиям, нм 0,14
-
Диапазон регулировки увеличения, крат 50¸1500000
-
Диапазон регулировки ускоряющего напряжения, кВ 80¸200
-
Диапазон измерений линейных размеров, мкм 0,003-50
-
Погрешность измерений линейных размеров не более, % 6
-
Производитель JEOL, Япония
ЗАЯВКА НА СОТРУДНИЧЕСТВО
Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных
