МИКРОСКОП ЭЛЕКТРОННЫЙРАСТРОВЫЙ S-4800
ОБОРУДОВАНИЕ
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур.
Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии. Оснащен автоэмиссионным катодом холодного типа.
Микроскоп обеспечивает работу в режимах регистрации вторичных, отраженных электронов и в режиме «напросвет».
Основные технические характеристики
-
Разрешение при ускоряющем напряжении 15кВ 1нм
-
Разрешение при ускоряющем напряжении 1кВ 1,5 нм
-
Эффективный диаметр электронного зонда во вторичных электронах при 15кВ не более 10 нм
-
Диапазон регулировки увеличения 30¸800000 крат.
-
Диапазон измерения линейных размеров 0,02¸10000 мкм
-
Погрешность измерений линейных размеров не более 5 %
-
Диапазон регулировки ускоряющего напряжения 0,1¸30 кВ
-
Производитель: Hitachi, Япония
ЗАЯВКА НА СОТРУДНИЧЕСТВО
Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных
