ЭЛЕКТРОННО-ИОННЫЙ МИКРОСКОП JIB-4500 C МИКРОМАНИПУЛЯТОРОМ IB-32010FPUS
ОБОРУДОВАНИЕ
Предназначен для управляемого локального травления сфокусированным ионным пучком проводящих и непроводящих объектов с заданным рисунком. В совокупности с микроманипулятором IB-32010FPUS идеально подходит для оперативной подготовки образцов из выбранной области для исследования в ПЭМ.
Прибор объединяет в себе растровый электронный микроскоп и растровый ионный микроскоп и оснащен системой локального нанесения С и W из газовой фазы. Электронная пушка — на основе LaB6 эмиттера, ионная пушка – на основе галлиевого жидкометаллического источника. Электронная пушка — на основе LaB6 эмиттера, ионная пушка – на основе галлиевого жидкометаллического источника.
Основные технические характеристики
-
Параметры электронно-оптической системы: разрешение (30кВ, рабочий отрезок 6 мм), нм 2,5 н
-
Параметры электронно-оптической системы: диапазон увеличений, крат 8-300000
-
Параметры электронно-оптической системы: диапазон регулировки ускоряющего напряжения, кВ 0,3-30
-
Параметры ионно-оптической системы: разрешение (30кВ), нм 5 нм
-
Диапазон измерений линейных размеров, мкм 0,003-50
-
Параметры ионно-оптической системы: диапазон увеличений, крат 100-300000
-
Параметры ионно-оптической системы: диапазон регулировки ускоряющего напряжения, кВ 0,3-30
-
Производитель JEOL, Япония
ЗАЯВКА НА СОТРУДНИЧЕСТВО
Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных
