Сотрудники |
Акционерное общество |
|
НАЦИОНАЛЬНЫЕ СТАНДАРТЫ (головной разработчик - НИЦПВ) |
№ п/п |
Обозначение и наименование стандарта |
Введен в действие |
Доступ для ознакомления |
1 |
ГОСТ Р 8.628—2007 ГСИ. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления |
Стандарт
- с 1.02.2008 г.
приказом Ростехрегулирования от 21.05.2007 г. №
96-ст. |
|
2 |
ГОСТ Р 8.629—2007 ГСИ. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки |
Стандарт
- с 1.02.2008 г.
приказом Ростехрегулирования от 21.05.2007 г. №
97-ст. |
|
3 |
ГОСТ Р 8.630—2007 ГСИ. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки |
Стандарт
- с 1.02.2008 г.
приказом Ростехрегулирования от 21.05.2007 г. №
98-ст. |
|
4 |
ГОСТ Р 8.631—2007 ГСИ. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки |
Стандарт
- с 1.02.2008 г.
приказом Ростехрегулирования от 21.05.2007 г. №
99-ст. |
|
5 |
ГОСТ Р 8.635—2007 ГСИ. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки |
С 1.08.2008 г. приказом Ростехрегулирования от 20.11.2007 г. № 318-ст. |
|
6 |
ГОСТ Р 8.636—2007 ГСИ. Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки |
С 1.08.2008 г. приказом Ростехрегулирования от 20.11.2007 г. № 319-ст. |
|
7 |
ГОСТ Р 8.644—2008 ГСИ. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика калибровки |
С 1.06.2009 г. приказом Ростехрегулирования от 26.08.2008 г. № 186-ст. |
|
8 |
ГОСТ Р 8.696—2010 ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра |
С 1.09.2010 г. приказом Ростехрегулирования от 10.02.2010 г. № 10-ст. |
|
9 |
ГОСТ Р 8.697—2010 ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа |
С 1.09.2010 г. приказом Ростехрегулирования от 10.02.2010 г. № 11-ст. |
|
10 |
ГОСТ Р 8.698—2010 ГСИ. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра |
С 1.09.2010 г. приказом Ростехрегулирования от 10.02.2010 г. № 12-ст. |
|
11 |
ГОСТ Р 8.700—2010 ГСИ. Методика измерений эффективной высоты шероховатости
поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа |
С 1.11.2010 г. приказом Ростехрегулирования от 5.04.2010 г. № 54-ст. |
|
12 |
ГОСТ Р ИСО 22309 ГСИ. Микроанализ |
С 1.06.2016
г. приказом Росстандарта |
|
13 |
ГОСТ Р ИСО 13067 ГСИ. Микроанализ |
С 1.11.2016
г. приказом Росстандарта |
|
14 |
ГОСТ Р ИСО 16242 ГСИ. Химический анализ поверхности. |
С 1.11.2016
г. приказом Росстандарта |
|
15 |
ГОСТ Р ИСО 16243 ГСИ. |
С 1.11.2016
г. приказом |
|
|
МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЕ СТАНДАРТЫ (головной разработчик - НИЦПВ)
|
Страничка находится на стадии разработки, приносим свои извинения за возможные сбои и неудобства.