Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума

 

 

Общая
информация

Аккредитация

Продукция

ЦКП НИЦПВ

Техничес­кие комитеты по стандартизации

Федеральные целевые программы

Национальные и межгосударственные стандарты

Закупки

Экологическая ответственность

Новости

Сотрудники

Публикации

Контакты

Прейскурант

 

 

Акционерное общество
"Научно-исследовательский центр
по изучению свойств поверхности и вакуума"
(АО "НИЦПВ")

 

 

 

 

НАЦИОНАЛЬНЫЕ СТАНДАРТЫ

(головной разработчик - НИЦПВ)

 

№

п/п

Обозначение и наименование стандарта

Введен в действие

Доступ для  ознакомления

1

ГОСТ Р 8.628—2007 ГСИ. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления

Стандарт - с 1.02.2008 г. приказом Ростехрегулирования от 21.05.2007 г. № 96-ст.

Изменение № 1 - с 1.04.2011 г. приказом Ростехрегулирования от 12.11.2010 г. № 476-ст.

▼

2

ГОСТ Р 8.629—2007 ГСИ. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки

Стандарт - с 1.02.2008 г. приказом Ростехрегулирования от 21.05.2007 г. № 97-ст.

Изменение № 1 - с 1.04.2011 г. приказом Ростехрегулирования от 12.11.2010 г. № 468-ст.

▼

3

ГОСТ Р 8.630—2007 ГСИ. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки

Стандарт - с 1.02.2008 г. приказом Ростехрегулирования от 21.05.2007 г. № 98-ст.

Изменение № 1 - с 1.04.2011 г. приказом Ростехрегулирования от 12.11.2010 г. № 469-ст.

▼

4

ГОСТ Р 8.631—2007 ГСИ. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки

Стандарт - с 1.02.2008 г. приказом Ростехрегулирования от 21.05.2007 г. № 99-ст.

Изменение № 1 - с 1.04.2011 г. приказом Ростехрегулирования от 12.11.2010 г. № 470-ст.

▼

5

ГОСТ Р 8.635—2007 ГСИ. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки

С 1.08.2008 г. приказом Ростехрегулирования от 20.11.2007 г. № 318-ст.

▼

6

ГОСТ Р 8.636—2007 ГСИ. Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки

С 1.08.2008 г. приказом Ростехрегулирования от 20.11.2007 г. № 319-ст.

▼

7

ГОСТ Р 8.644—2008 ГСИ. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика калибровки

С 1.06.2009 г. приказом Ростехрегулирования от 26.08.2008 г. № 186-ст.

▼

8

ГОСТ Р 8.696—2010 ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра

С 1.09.2010 г. приказом Ростехрегулирования от 10.02.2010 г. № 10-ст.

▼

9

ГОСТ Р 8.697—2010 ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа

С 1.09.2010 г. приказом Ростехрегулирования от 10.02.2010 г. № 11-ст.

▼

10

ГОСТ Р 8.698—2010 ГСИ. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра

С 1.09.2010 г. приказом Ростехрегулирования от 10.02.2010 г. № 12-ст.

▼

11

ГОСТ Р 8.700—2010 ГСИ. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа

С 1.11.2010 г. приказом Ростехрегулирования от 5.04.2010 г. № 54-ст.

▼

12

ГОСТ Р ИСО 22309 ГСИ. Микроанализ
электронно-зондовый. Количественный анализ с использованием энергодисперсионной спектрометрии для элементов с атомным номером от 11 (Na) и выше.

С 1.06.2016 г. приказом Росстандарта
от 6.07.2015 г.
№ 877-ст.

 

13

ГОСТ Р ИСО 13067 ГСИ. Микроанализ
электронно-зондовый.
Дифракция обратнорассеянных электронов.
Измерение среднего размера зерна.

С 1.11.2016 г. приказом Росстандарта
от 1.09.2016 г.
№ 1011-ст.

 

14

ГОСТ Р ИСО 16242 ГСИ. Химический анализ поверхности.
Оже-электронная спектроскопия.
Регистрация и
представление данных

С 1.11.2016 г. приказом Росстандарта
от 5.09.2016 г.
№ 1018-ст.

 

15

ГОСТ Р ИСО 16243 ГСИ.
Химический анализ поверхности.
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.
Регистрация и представление данных

С 1.11.2016 г. приказом 
Росстандарта
от 1.09.2016 г.
№ 1017-ст.

 

 

 

 

 

 

 

 

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЕ СТАНДАРТЫ

(головной разработчик - НИЦПВ)

 

 

 

№

п/п

Обозначение и наименование стандарта

Введен в действие

Доступ для  ознакомления

1

ГОСТ 8.591—2009 ГСИ. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки

 В странах СНГ (Армения, Беларусь, Казахстан, Кыргызстан,  Молдова, Таджикистан, Узбекистан, Украина) - принят Межгосударственным советом по стандартизации, метрологии и сертификации, протокол от 11.11.2009 г. № 36.
В России - с 1.11.2010 г. приказом Ростехрегулирования от 5.04.2010 г. № 55-ст.

▼

2

ГОСТ 8.592—2009 ГСИ. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления

В странах СНГ (Армения, Беларусь, Казахстан, Кыргызстан,  Молдова, Таджикистан, Узбекистан, Украина) - принят Межгосударственным советом по стандартизации, метрологии и сертификации, протокол от 11.11.2009 г. № 36.
В России - с 1.11.2010 г. приказом Ростехрегулирования от 5.04.2010 г. № 56-ст.

▼

3

ГОСТ 8.593—2009 ГСИ. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки

В странах СНГ (Армения, Беларусь, Казахстан, Кыргызстан,  Молдова, Таджикистан, Узбекистан, Украина) - принят Межгосударственным советом по стандартизации, метрологии и сертификации, протокол от 11.11.2009 г. № 36.
В России - с 1.11.2010 г. приказом Ростехрегулирования от 5.04.2010 г. № 57-ст.

▼

4

ГОСТ 8.594—2009 ГСИ. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки

В странах СНГ (Армения, Беларусь, Казахстан, Кыргызстан,  Молдова, Таджикистан, Узбекистан, Украина) - принят Межгосударственным советом по стандартизации, метрологии и сертификации, протокол от 11.11.2009 г. № 36.
В России - с 1.11.2010 г. приказом Ростехрегулирования от 5.04.2010 г. № 58-ст.

▼

 

 

 

 

 

 

 

Страничка находится на стадии разработки, приносим свои извинения за возможные сбои и неудобства.