Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума

 

 

 

 

 

Общая
информация

Аккредитация

Продукция

ЦКП НИЦПВ

Техничес­кие комитеты по стандартизации

Федеральные целевые программы

Национальные и межгосударственные стандарты

Закупки

Экологическая ответственность

Новости

Сотрудники

Публикации

Контакты

Прейскурант

 

 

Продукция НИЦПВ

 

Эталонная 3D лазерная интерферометрическая система измерений наноперемещений

Reference 3D Laser Interferometric Nanodisplacement Measuring System

Измеритель диффузионной длины неосновных носителей заряда в кремниевых пластинах

Diffusion Length Measurement System of Minority
Charge Carriers in Silicon Wafers

Эталонная мера ширины и периода МШПС-2.0К для растровой электронной и атомно-силовой микроскопии

Gauge of width and period, special GWPS-2.0Si

Лазерный измеритель наноперемещений

Nanodisplacement Laser Meter









Страничка находится на стадии разработки, приносим свои извинения за возможные сбои и неудобства.